判斷小兒頭小畸形最可靠的指標(biāo)是雙頂徑及頭圍的大小低于正常值的3倍標(biāo)準(zhǔn)差。一般可以通過彩超檢查測量頭圍及雙頂徑來確診。小頭畸形額葉明顯減少,額葉測量,側(cè)腦室前角后壁與前額顱骨內(nèi)側(cè)面之間的距離。面部正中矢狀面,前額明顯后縮。一般見于腦萎縮,先天性腦發(fā)育不良等疾病。
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