新生兒低血糖腦損傷程度如何盤點(diǎn)
保密 | 0個(gè)月 2021-11-06 11:29:59
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健康咨詢描述： 新生兒低血糖腦損傷程度如何盤點(diǎn)
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2022-12-16 12:43:53 我要投訴
新生兒低血糖腦損傷程度可以通過(guò)核磁共振以及B超來(lái)進(jìn)行檢查，來(lái)進(jìn)行判斷，嚴(yán)重程度建議去醫(yī)院檢查以及采取相應(yīng)的治療措施，可以通過(guò)相對(duì)應(yīng)的藥物來(lái)進(jìn)行改善，相信經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的調(diào)理的
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