弱智什么時(shí)候檢查

      弱智的孩子可以去當(dāng)?shù)氐谋＝C(jī)構(gòu)進(jìn)行檢查通常現(xiàn)象智力低下，分重中輕度不一樣的水平，智力低下去做不一樣的特別培養(yǎng)。智力檢測(cè)應(yīng)該在學(xué)齡期在學(xué)?；蛲挲g的同班學(xué)生對(duì)比下，智力缺陷很容易顯露出來(lái)然后可以進(jìn)行檢查

      目前，常見(jiàn)的智力障礙的檢查方法主要有兩種，遺傳學(xué)檢查和智力檢測(cè)。其中，遺傳學(xué)檢查有助于確定基因異常、染色體異常所致的神經(jīng)系統(tǒng)發(fā)育不良、畸形、遺傳性代謝缺陷等，特別是代謝缺陷。智力檢測(cè)主要指學(xué)齡期的在校學(xué)生，在同年齡的同班學(xué)生對(duì)比下，智力缺陷很容易顯露出來(lái)而為老師發(fā)現(xiàn)，但家長(zhǎng)有時(shí)因?yàn)榉N種原因不承認(rèn)自己的孩子有問(wèn)題，最后也會(huì)來(lái)要求醫(yī)生判斷，醫(yī)生不能根據(jù)臨床表現(xiàn)判斷時(shí)，也要做智力測(cè)驗(yàn)