晶狀體用裂隙燈顯微鏡檢查晶狀體是確定有無白內(nèi)障的重要方法之一,但由于晶狀體本身構(gòu)造較復(fù)雜,故首先應(yīng)對晶狀體在裂隙燈下的正常情況徹底了解,方可不致造成誤診。
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